应用案例
行业概述
机器视觉在半导体行业的应用已非常普遍,应用范围也越来越广,涉及到半导体外观缺陷、尺寸大小、数量、平整度、间隔、定位、校准、焊点质量、弯曲度等等的检测和测量。
检测内容包括:
电子元器件外观检测、SMD产品的外观检测、硅片外观检测、IC芯片、电子链接器平整度检测等。
打光难点:
产品形式多样、检测精度高、由于材料与工艺等原因产品本身特征不太明显,因此对打光的要求比较高。
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[2016-08-24]晶体板内晶格有无检测
检测内容:晶体板内晶格有无检测使用光源:点光源分析:用点光源和显微镜头拍摄显微晶元图像特征呈黑,背景...[查看详情]
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[2016-07-28]LED针脚间距测量
检测目的:LED针脚间距测量检测内容:LED针脚间距测量参考光源:HFL-50-50-W分析: 用面光源背面照射,将LE...[查看详情]
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[2016-07-28]塑胶镭射字符成像实例
检测内容:塑胶镭射字符成像实例使用光源:环形光源分析:使用环形光照射,字符与背景对比不明显。使用光源...[查看详情]
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[2016-07-29]太阳能电池检测
检测内容:太阳能电池检测 使用光源:条形光源分析:[查看详情]
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[2016-08-01]硅片脏污检测
检测内容:硅片脏污检测 使用光源:四面可调光源分析:[查看详情]
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